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电子探针分析EPMA：根据X-射线的波长和强度进行分析的方法称为电子探针分析法。分析准确度高。分析灵敏度高。样品的无损性，多元素同时检测性。可进行选区分析。电子探针分析对轻元素很不利。

铜基粉体科技有限公司主导产品为纯铜粉、铜锡合金粉、铜锌合金粉等5个系列，产品应用性能良好。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。

扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束较细的电子束扫描样品，**细纯铜粉厂家，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，聊城**细纯铜粉，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，**细纯铜粉生产厂家，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。

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使用的铜粉粒径0.3-7微米，铂粉粒径小于1微米。

使用的玻璃成分为: Pb3O4-43.5%（wt）、Al2O3-4.3%、CaO-9.8%、B2O3-4.9% 和SiO2-37.5%。

试验电阻浆料通过丝网印刷，转印到氧化铝陶瓷基片上，电阻图形2.5X5毫米，**细纯铜粉生产，干燥温度100摄氏度、干燥时间10分钟，烧结峰值温度850摄氏度、峰值烧结时间10分钟。

阻值变化率是在烧结后，无电负荷，在常规大气温度和湿度中放置130小时。

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